便攜式電導(dǎo)率儀   型號：WSDDB-305

產(chǎn)品名稱：四探針測試儀 四探針電阻率測試儀 四探針檢測儀  產(chǎn)品型號：RTS-4

四探針測試儀 四探針電阻率測試儀 四探針檢測儀 型號： RTS-4  
 RTS-4型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計的，于測試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器。 
    儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成，測量數(shù)據(jù)既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計分析顯示測試結(jié)果。 
    儀器采用了新電子技術(shù)進行設(shè)計、裝配。具有功能選擇直觀、測量取數(shù)快、精度高、測量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等特點。 
    本儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠、科研單位、高等院校對半導(dǎo)體材料的電阻性能測試。 
RTS-4型四探針軟件測試系統(tǒng)是一個運行在計算機上擁有友好測試界面的用戶程序，通過此測試程序輔助使用戶簡便地進行各項測試及獲得測試數(shù)據(jù)并對測試數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計分析。 
    測試程序控制四探針測試儀進行測量并采集測試數(shù)據(jù)，把采集到的數(shù)據(jù)在計算機中加以分析，然后把測試數(shù)據(jù)以表格，圖形直觀地記錄、顯示出來。用戶可對采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看，還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中，讓用戶對數(shù)據(jù)進行各種數(shù)據(jù)分析 
技術(shù)參數(shù)： 
 測量范圍 電阻率：0.001～200Ω.cm(可擴展)；   
 方塊電阻：0.01～2000Ω/□(可擴展)；  
 電導(dǎo)率：0.005～1000 s/cm；  
 電阻：0.001～200Ω.cm；  

可測晶片直徑 140mmX150mm(配S-2A型測試臺)； 
 200mmX200mm(配S-2B型測試臺)； 
 400mmX500mm(配S-2C型測試臺)； 
恒流源 電流量程分為0.1mA、1mA、10mA、100mA四檔，各檔電流連續(xù)可調(diào) 
數(shù)字電壓表 量程及表示形式：000.00～199.99mV；　　　　 
 分辨力：10μV； 
 輸入阻抗：>1000MΩ； 
 精度：±0.1% ； 
 顯示：四位半紅色發(fā)光管數(shù)字顯示；性、量程自動顯示； 
四探針探頭基本指標(biāo) 間距：1±0.01mm； 
 針間緣電阻：≥1000MΩ；  
 機械游移率：≤0.3%； 
 探針：碳化鎢或高速鋼Ф0.5mm； 
 探針壓力：5～16 牛頓(總力)； 
四探針探頭應(yīng)用參數(shù) (見探頭附帶的合格證) 
模擬電阻測量相對誤差 
( 按JJG508-87進行) 0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字 
整機測量大相對誤差(用硅標(biāo)樣片：0.01-180Ω.cm測試)≤±5% 
整機測量標(biāo)準(zhǔn)不確定度 ≤5% 
計算機通訊接口 并口 
標(biāo)準(zhǔn)使用環(huán)境 溫度：23±2℃； 
 相對濕度：≤65%； 
 無高頻干擾； 
 無強光直射；